國立臺灣美術館
「科學檢測分析專題講座」

活動緣起：
文物與藝術品客觀的科學化鑑定，可從物質材料的分析、匠師或藝術家的創作與處理技法，以及儲放環境、時間老化造成的影響等交互比對而得知，並透過儀器的輔助可進一步作出更精微的分析。文物與藝術品因其有美學、歷史意義而具有珍貴性與稀有性，因此文物修復檢測工作需以「非破壞性檢測技術」為主，盡可能降低對文物的損害。在各項非破壞性檢測技術中，以X射線（或稱為X光）為探測光源的檢測分析方法，其為鑑定文物與藝術品常用的儀器類型之一，亦為美術館及作品維修護機構所必須掌握的技術。而本館為推廣、促進美術館作品典藏業務中之保存維護相關工作，特別舉辦此次科學檢測分析講座。

活動內容：
本次活動邀請國立雲林科技大學文化資產維護系曾永寬教授擔任講師，講座上半場將依序介紹X射線原理以及應用於非破壞性檢測技術中的各式X射線儀器。下半場則以不同類型作品的案例，介紹如何善用X射線設備，更深入瞭解文物的結構、歷史以及藝術家所運用的材料，甚至鑑定真偽﹕如葉王交趾陶、德國偽畫大師 Wolfgang Beltrachi模仿藝術家Heinrich Campendonk筆觸所畫的「Rotes Bild mit Pferden」，以及喬瓦尼・博塔費奧的聖母子畫像(Madonna and Child by Giovanni Boltraffio’s)等作品。

講座主題：利用X射線輔助文物與藝術品鑑定
 課程內容：
(一) X射線原理及應用
(二)非破壞檢測技術應用- X射線透視攝影
(三)非破壞檢測技術應用- X射線螢光分析（XRF）
(四)非破壞檢測技術應用- X射線繞射（XRD）

時間：2016年11月8日（星期二)，14:00-16:00
地點：國立臺灣美術館 研習教室
對象：文化相關領域之從業人員及有興趣之民眾，預計30人
報名方式：現場報名，額滿為止
聯絡方式：04-23723552 分機375 杜小姐